HAST高加速老化壽命試驗箱，試驗箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產(chǎn)...

Bias-HAST高加速老化 偏壓老化測試系統(tǒng)，評估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時間的測試（1...

HAST半導(dǎo)體高加速立式偏壓應(yīng)力老化試驗箱，HAST高加速壽命試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕...

HAST高加速老化壽命PCB老化試驗箱，試驗箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，...

PCB-HAST絕緣電阻劣化系統(tǒng)高加速壽命老化，評估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時間的測試（1...

BHAST偏壓加速老化試驗箱，適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產(chǎn)品的設(shè)...

HAST半導(dǎo)體高加速應(yīng)力測試箱BHAST實驗箱，評估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時間的測試（1...

HAST高加速老化測試系統(tǒng)，高加速應(yīng)力測試（HAST）結(jié)合了高溫、高濕度、高壓和時間，以測量元件的可靠性，無論是否具有電偏置。HAST測試以受控的方式加速了更傳...

CAF-HAST絕緣電阻劣化系統(tǒng)高加速壽命老化，是一種可信賴性的試驗設(shè)備，原理是印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時間的測試（1～1000小時）并觀察線路...

HAST離子遷移CAF絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)，評估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時間的測試（1～1...

BHAST溫濕度偏壓高加速應(yīng)力測試 HAST試驗箱，BHAST溫濕度偏壓高加速應(yīng)力測試，bHAST溫濕度偏壓高加速應(yīng)力測試（Bias Highly Accele...

微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)HAST，微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是一種用于評估微波器件在很差條件下的性能和可靠性的測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏...